Ambito di ricerca:
Carrello della spesa (0)
Standard

IEC 60749:1996 ED2

Sostituito

Nota: Ultima versione: IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV ED2.2

Anteprima

Le modifiche e le versioni esistenti o nuove devono essere acquistate separatamente.

Lingua
Servizi

Astratto

Lists test methods applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) from which a selection may be made. Establishes uniform preferred test methods with preferred values for stress levels for judging the environmental properties of semiconductor devices.

Specifiche dei prodotti

  • Standard da IEC
  • Pubblicato:
  • Ritirato:
  • Edizione: 2
  • Tipo di documento: IS
  • Pagine
  • Publisher IEC
  • Distributor IEC
  • ICS 31.080.01
  • International TC TC 47

Relazioni con i prodotti

Ciclo di vita del prodotto