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IEC 60749-4:2002 ED1

apr 2002 Rivisto

Nota: Ultima versione: IEC 60749-4:2017 ED2

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Rivisto IEC 60749-4:2002/COR1:2003 ED1 Rettifica da Data di pubblicazione: ago 2003 Lingua: Inglese/Francese Servizi: In linea, Online + Pdf

Astratto

Provides a highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST) for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged semiconductor devices in humid environments. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.

Specifiche dei prodotti

Standard da IEC
Pubblicato: 12 aprile 2002
Ritirato: 3 marzo 2017
Edizione: 1
Tipo di documento: IS
Pagine
ISBN: 2831862892

Publisher IEC
Distributor IEC
ICS 31.080.01
International TC TC 47

Relazioni con i prodotti

Revisionato da: IEC 60749-4:2017 ED2
Sostituisce parzialmente: IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV ED2.2
Sostituisce: IEC PAS 62177:2000 ED1
Sostituisce parzialmente: IEC 60749:1996 ED2

IEC 60749-4:2002 ED1

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