Standard

IEC 60749-36:2003 ED1

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Provides a test for determining the effects of constant acceleration on cavity-type semiconductor devices. It is an accelerated test designed to indicate types of structural and mechanical weaknesses not necessarily detected in shock and vibration test.

Specifiche dei prodotti

  • Standard da IEC
  • Pubblicato:
  • Edizione: 1
  • Tipo di documento: IS
  • Pagine
  • Publisher IEC
  • Distributor IEC
  • ICS 31.080.01
  • International TC TC 47

Relazioni con i prodotti