Standard

IEC 60749-7:2002 ED1

apr 2002 Rivisto

Nota: Ultima versione: IEC 60749-7:2011 ED2

Anteprima Collegamento esterno

Le modifiche e le versioni esistenti o nuove devono essere acquistate separatamente.

Lingua Inglese/Francese

Servizi Online + Pdf CHF 21.00 In linea CHF 18.00

Non sono disponibili edizioni estese per questo standard

Prodotto aperto
Rivisto IEC 60749-7:2002/COR1:2003 ED1 Rettifica da Data di pubblicazione: ago 2003 Lingua: Inglese/Francese Servizi: In linea, Online + Pdf

Astratto

Aims at testing and measuring the water vapour and other gas content of the atmosphere inside a metal or ceramic hermetically sealed device. Applicable to semiconductor devices sealed in such a manner but generally only used for high reliability applications such as military or aerospace. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.

Specifiche dei prodotti

Standard da IEC
Pubblicato: 9 aprile 2002
Ritirato: 17 giugno 2011
Edizione: 1
Tipo di documento: IS
Pagine
ISBN: 2831862760

Publisher IEC
Distributor IEC
ICS 31.080.01
International TC TC 47

Relazioni con i prodotti

Revisionato da: IEC 60749-7:2011 ED2
Sostituisce parzialmente: IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV ED2.2
Sostituisce parzialmente: IEC 60749:1996 ED2

IEC 60749-7:2002 ED1

Crea abbonamento

IEC 60749-7:2011 ED2