Standard

IEC 60749-8:2002 ED1

Attuale

Le modifiche e le versioni esistenti o nuove devono essere acquistate separatamente.

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Astratto

Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), it determines the leak rate of semiconductor devices. The contents of the corrigenda of April 2003 and August 2003 have been included in this copy.

Specifiche dei prodotti

  • Standard da IEC
  • Pubblicato:
  • Edizione: 1
  • Tipo di documento: IS
  • Pagine
  • Publisher IEC
  • Distributor IEC
  • ICS 31.080.01
  • International TC TC 47

Relazioni con i prodotti