Standard

IEC 60749-32:2002 ED1

ago 2002 Attuale

Nota: Ultima versione: IEC 60749-32:2002+AMD1:2010 CSV ED1.1

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Attuale IEC 60749-32:2002/AMD1:2010 ED1 Emendamento da Data di pubblicazione: lug 2010 Pagine: 4 Lingua: Inglese/Francese Servizi: In linea, Online + Pdf
Prodotto aperto
Attuale IEC 60749-32:2002/COR1:2003 ED1 Rettifica da Data di pubblicazione: ago 2003 Lingua: Inglese/Francese Servizi: In linea, Online + Pdf

Astratto

Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), this test determines whether the device ignites due to external heating. The test uses a needle flame, simulating the effect of small flames which may result from fault conditions within equipment containing the device. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.

Specifiche dei prodotti

Standard da IEC
Pubblicato: 30 agosto 2002
Edizione: 1
Tipo di documento: IS
Pagine
ISBN: 2831865581

Publisher IEC
Distributor IEC
ICS 31.080.01
International TC TC 47

Relazioni con i prodotti

Sostituisce parzialmente: IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV ED2.2
Sostituisce parzialmente: IEC 60749:1996 ED2

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Extended editions Edizioni estese (0)

Version history Rettifiche e modifiche correlate (2)

IEC 60749-32:2002/AMD1:2010 ED1

IEC 60749-32:2002/COR1:2003 ED1

Version history La storia (2)

IEC 60749-32:2002+AMD1:2010 CSV ED1.1