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IEC 60749-31:2002 ED1

ago 2002 Attuale

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Attuale IEC 60749-31:2002/COR1:2003 ED1 Rettifica da Data di pubblicazione: ago 2003 Lingua: Inglese/Francese Servizi: In linea, Online + Pdf

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Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), this test determines whether the device ignites due to internal heating caused by excessive overloads. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.

Specifiche dei prodotti

Standard da IEC
Pubblicato: 30 agosto 2002
Edizione: 1
Tipo di documento: IS
Pagine
ISBN: 2831865573

Publisher IEC
Distributor IEC
ICS 31.080.01
International TC TC 47

Relazioni con i prodotti

Sostituisce parzialmente: IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV ED2.2
Sostituisce parzialmente: IEC 60749:1996 ED2

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