Standard

IEC 60749:1984 ED1

dic 1984 Rivisto

Nota: Ultima versione: IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV ED2.2

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Prodotto aperto
Rivisto IEC 60749:1984/AMD2:1993 ED1 Emendamento da Data di pubblicazione: set 1993 Pagine: 31 Lingua: Inglese/Francese Servizi: In linea, Online + Pdf
Prodotto aperto
Rivisto IEC 60749:1984/AMD1:1991 ED1 Emendamento da Data di pubblicazione: dic 1991 Pagine: 33 Lingua: Inglese/Francese Servizi: In linea, Online + Pdf

Astratto

Lists test methods applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) from which a selection may be made. Establishes uniform preferred test methods with preferred values for stress levels for judging the environmental properties of semiconductor devices.

Specifiche dei prodotti

Standard da IEC
Pubblicato: 30 dicembre 1984
Ritirato: 28 ottobre 1996
Edizione: 1
Tipo di documento: IS
Pagine
ISBN: 2831810604

Publisher IEC
Distributor IEC
ICS 31.080.01
International TC TC 47

Relazioni con i prodotti

Revisionato da: IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV ED2.2
Revisionato da: IEC 60749:1996 ED2
Sostituisce: IEC 60147-5A:1981 ED1
Sostituisce: IEC 60147-5:1977 ED1

IEC 60749:1984 ED1

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