Standard

IEC 60749-5:2003 ED1

gen 2003 Rivisto

Nota: Ultima versione: IEC 60749-5:2023 ED3

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Astratto

Provides a steady-state temperature and humidity bias life test for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments.

Specifiche dei prodotti

Standard da IEC
Pubblicato: 17 gennaio 2003
Ritirato: 10 aprile 2017
Edizione: 1
Tipo di documento: IS
Pagine
ISBN: 2831868009

Publisher IEC
Distributor IEC
ICS 31.080.01
International TC TC 47

Relazioni con i prodotti

Revisionato da: IEC 60749-5:2017 ED2
Sostituisce parzialmente: IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV ED2.2
Sostituisce: IEC PAS 62161:2000 ED1
Sostituisce parzialmente: IEC 60749:1996 ED2

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