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IEC 60749-11:2002 ED1

apr 2002 Attuale

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Attuale IEC 60749-11:2002/COR2:2003 ED1 Rettifica da Data di pubblicazione: ago 2003 Lingua: Inglese/Francese Servizi: In linea, Online + Pdf
Prodotto aperto
Attuale IEC 60749-11:2002/COR1:2003 ED1 Rettifica da Data di pubblicazione: gen 2003 Lingua: Inglese/Francese Servizi: In linea, Online + Pdf

Astratto

Defines the rapid change of temperature test method and the two-fluid-bath method. This test method may also be used, employing fewer cycles, to test the effect of immersion in heated liquids that are used for the purpose of cleaning devices. This test is applicable to all semiconductor devices. It is considered destructive unless otherwise detailed in the relevant specification. The contents of the corrigenda of January 2003 and August 2003 have been included in this copy.

Specifiche dei prodotti

Standard da IEC
Pubblicato: 12 aprile 2002
Edizione: 1
Tipo di documento: IS
Pagine
ISBN: 2831862957

Publisher IEC
Distributor IEC
ICS 31.080.01
International TC TC 47

Relazioni con i prodotti

Sostituisce parzialmente: IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV ED2.2
Sostituisce: IEC PAS 62185:2000 ED1
Sostituisce parzialmente: IEC 60749:1996 ED2

IEC 60749-11:2002 ED1

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