Standard

IEC 60749-24:2004 ED1

mar 2004 Attuale

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Astratto

The unbiased highly accelerated stress test is performed for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetically packaged solid-state devices in humid environments. It employs temperature and humidity under non-condensing conditions to accelerate the penetration of moisture through the external protective material or along the interface between the external protective material and the metallic conductors which pass through it.

Specifiche dei prodotti

Standard da IEC
Pubblicato: 9 marzo 2004
Edizione: 1
Tipo di documento: IS
Pagine
ISBN: 283187419X

Publisher IEC
Distributor IEC
ICS 31.080.01
International TC TC 47

Relazioni con i prodotti

Sostituisce: IEC PAS 62336:2002 ED1
Sostituisce parzialmente: IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV ED2.2
Sostituisce parzialmente: IEC 60749:1996 ED2

IEC 60749-24:2004 ED1

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