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IEC 60749-13:2002 ED1

apr 2002 Rivisto

Nota: Ultima versione: IEC 60749-13:2018 ED2

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Rivisto IEC 60749-13:2002/COR1:2003 ED1 Rettifica da Data di pubblicazione: ago 2003 Lingua: Inglese/Francese Servizi: In linea, Online + Pdf

Astratto

Describes a salt atmosphere test that determines the resistance of semiconductor devices to corrosion. It is an accelerated test that simulates the effects of severe sea-coast atmosphere on all exposed surfaces. It is only applicable to those devices specified for a marine environment. The salt atmosphere test is considered destructive. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.

Specifiche dei prodotti

Standard da IEC
Pubblicato: 12 aprile 2002
Ritirato: 15 febbraio 2018
Edizione: 1
Tipo di documento: IS
Pagine
ISBN: 2831862787

Publisher IEC
Distributor IEC
ICS 31.080.01
International TC TC 47

Relazioni con i prodotti

Revisionato da: IEC 60749-13:2018 ED2
Sostituisce parzialmente: IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV ED2.2
Sostituisce: IEC PAS 62183:2000 ED1
Sostituisce parzialmente: IEC 60749:1996 ED2

IEC 60749-13:2002 ED1

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