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Consolidato

IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV ED2.2

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Le modifiche e le versioni esistenti o nuove devono essere acquistate separatamente.

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Lists test methods applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) from which a selection may be made. Establishes uniform preferred test methods with preferred values for stress levels for judging the environmental properties of semiconductor devices.

Specifiche dei prodotti

  • Consolidato da IEC
  • Pubblicato:
  • Ritirato:
  • Edizione: 2.2
  • Tipo di documento: IS
  • Pagine
  • Publisher IEC
  • Distributor IEC
  • ICS 31.080.01
  • International TC TC 47

Relazioni con i prodotti

Ciclo di vita del prodotto