Standard

IEC 60749:1996 ED2

Remplacé

Amendements et versions existants ou nouveaux doivent être achetés séparément.

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Résumé

Donne la liste des méthodes d'essais applicables aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés), parmi lesquelles on peut effectuer un choix. Etablit des méthodes d'essais préférées uniformes avec des valeurs préférentielles pour les niveaux de contraintes, afin d'apprécier les propriétés mécaniques et climatiques des dispositifs à semiconducteurs.

Spécifications des produits

  • Standard de IEC
  • Publié:
  • Radié:
  • Version: 2
  • Type de document: IS
  • Pages
  • Editeur: IEC
  • Distributeur: IEC
  • ICS: 31.080.01
  • Comité international: TC 47

Relations produit