Standard

IEC 60749-4:2002 ED1

Révisé

Note: Version actuelle: IEC 60749-4:2017 ED2

Amendements et versions existants ou nouveaux doivent être achetés séparément.

Langue
Service

Résumé

Décrit un essai de contrainte de température et d'humidité fortement accéléré (HAST) qui est réalisé dans le but d'évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides. Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.

Spécifications des produits

  • Standard de IEC
  • Publié:
  • Radié:
  • Version: 1
  • Type de document: IS
  • Pages
  • ISBN: 2831862892
  • Editeur: IEC
  • Distributeur: IEC
  • ICS: 31.080.01
  • Comité international: TC 47

Relations produit

Cycle de vie du produit