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IEC 60749-36:2003 ED1

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Résumé

Décrit un essai utilisé pour déterminer les effets d'accélération constante sur les dispositifs à semiconducteurs de type à cavité. Il s'agit d'un essai accéléré destiné à indiquer les types de faiblesses structurelles et mécaniques non nécessairement détectées dans les essais de chocs et de vibrations.

Spécifications des produits

  • Standard de IEC
  • Publié:
  • Version: 1
  • Type de document: IS
  • Pages
  • Editeur: IEC
  • Distributeur: IEC
  • ICS: 31.080.01
  • Comité international: TC 47

Relations produit