Standard

IEC 60749-13:2002 ED1

avr. 2002 Révisé

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Corrigendum 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 13: Atmosphère saline Révisé IEC 60749-13:2002/COR1:2003 ED1 Corrigendum de Date de publication : août 2003 Langue: Anglais/Français Format: En ligne, En ligne + PDF

Résumé

Décrit un essai d'atmosphère saline réalisé pour déter-miner la résistance des dispositifs à semiconducteurs à la corrosion. Il s'agit d'un essai accéléré qui simule les effets d'une atmosphère côtière corrosive sur toutes les surfaces exposées. Il n'est applicable qu'aux dispositifs spécifiés pour un environnement maritime. L'essai d'atmosphère saline est considéré comme destructif. Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.

Spécifications des produits

Standard de IEC
Publié: 12 avril 2002
Radié: 15 février 2018
Version: 1
Type de document: IS
Pages
ISBN: 2831862787

Editeur: IEC
Distributeur: IEC
ICS: 31.080.01
Comité international: TC 47

Relations produit

Révisé par: IEC 60749-13:2018 ED2
Remplace partiellement: IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV ED2.2
Remplace: IEC PAS 62183:2000 ED1
Remplace partiellement: IEC 60749:1996 ED2

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