Standard

IEC 60749-6:2002 ED1

Révisé

Note: Version actuelle: IEC 60749-6:2017 ED2

Amendements et versions existants ou nouveaux doivent être achetés séparément.

Langue
Service

Résumé

Vise à tester et à déterminer sur tous les dispositifs électroniques à semiconducteurs l'effet du stockage à température élevée et sans contrainte électrique appliquée. Cet essai est considéré comme non destructif. Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.

Spécifications des produits

  • Standard de IEC
  • Publié:
  • Radié:
  • Version: 1
  • Type de document: IS
  • Pages
  • ISBN: 2831862884
  • Editeur: IEC
  • Distributeur: IEC
  • ICS: 31.080.01
  • Comité international: TC 47

Relations produit

Cycle de vie du produit