Consolidated

IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV ED2.2

avr. 2002 Remplacé

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Résumé

Donne la liste des méthodes d'essais applicables aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés), parmi lesquelles on peut effectuer un choix. Etablit des méthodes d'essais préférées uniformes avec des valeurs préférentielles pour les niveaux de contraintes, afin d'apprécier les propriétés mécaniques et climatiques des dispositifs à semiconducteurs.

Spécifications des produits

Consolidated de IEC
Publié: 10 avril 2002
Radié: 21 mai 2004
Version: 2.2
Type de document: IS
Pages
ISBN:

Editeur: IEC
Distributeur: IEC
ICS: 31.080.01
Comité international: TC 47

Relations produit

Partiellement remplacé par: IEC 60749-21:2004 ED1
Partiellement remplacé par: IEC 60749-24:2004 ED1
Partiellement remplacé par: IEC 60749-14:2003 ED1
Partiellement remplacé par: IEC 60749-25:2003 ED1
Partiellement remplacé par: IEC 60749-36:2003 ED1
Partiellement remplacé par: IEC 60749-19:2003 ED1
Partiellement remplacé par: IEC 60749-15:2003 ED1
Partiellement remplacé par: IEC 60749-5:2003 ED1
Partiellement remplacé par: IEC 60749-20:2002 ED1
Partiellement remplacé par: IEC 60749-22:2002 ED1
Partiellement remplacé par: IEC 60749-8:2002 ED1
Partiellement remplacé par: IEC 60749-32:2002 ED1
Partiellement remplacé par: IEC 60749-31:2002 ED1
Partiellement remplacé par: IEC 60749-1:2002 ED1
Partiellement remplacé par: IEC 60749-12:2002 ED1
Partiellement remplacé par: IEC 60749-4:2002 ED1
Partiellement remplacé par: IEC 60749-9:2002 ED1
Partiellement remplacé par: IEC 60749-6:2002 ED1
Partiellement remplacé par: IEC 60749-13:2002 ED1
Partiellement remplacé par: IEC 60749-2:2002 ED1
Partiellement remplacé par: IEC 60749-11:2002 ED1
Partiellement remplacé par: IEC 60749-10:2002 ED1
Partiellement remplacé par: IEC 60749-7:2002 ED1
Partiellement remplacé par: IEC 60749-3:2002 ED1
Révise: IEC 60749:1984 ED1

IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV ED2.2

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