Applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés), cet essai détermine si le dispositif prend feu en raison d'une chaleur extérieure. L'essai est pratiqué avec un brûleur-aiguille, simulant l'effet de petites flammes pouvant résulter de mauvaises conditions apparaissant dans l'équipement contenant le dispositif. Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.