Standard

IEC 60749:1984 ED1

déc. 1984 Révisé

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Note: Version actuelle: IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV

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Langue Anglais/Français

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Amendement 2 - Dispositifs à semiconducteurs - Essais mécaniques et climatiques . Révisé IEC 60749:1984/AMD2:1993 ED1 Amendment de Date de publication : sept. 1993 Pages: 31 Langue: Anglais/Français Format: En ligne, En ligne + PDF
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Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Essais mécaniques et climatiques . Révisé IEC 60749:1984/AMD1:1991 ED1 Amendment de Date de publication : déc. 1991 Pages: 33 Langue: Anglais/Français Format: En ligne, En ligne + PDF

Résumé

Donne la liste des méthodes d'essais applicables aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés), parmi lesquelles on peut effectuer un choix. Etablit des méthodes d'essais préférées uniformes avec des valeurs préférentielles pour les niveaux de contraintes, afin d'apprécier les propriétés mécaniques et climatiques des dispositifs à semiconducteurs.

Spécifications des produits

Standard de IEC
Publié: 30 décembre 1984
Radié: 28 octobre 1996
Version: 1
Type de document: IS
Pages
ISBN: 2831810604

Editeur: IEC
Distributeur: IEC
ICS: 31.080.01
Comité international: TC 47

Relations produit

Révisé par: IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV
Révisé par: IEC 60749:1996 ED2
Remplace: IEC 60147-5A:1981 ED1
Remplace: IEC 60147-5:1977 ED1

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