Standard

IEC 60749-5:2003 ED1

janv. 2003 Révisé

Connectez-vous ou enregistrez-vous pour ajouter ce produit à vos favoris.
Connectez-vous ou enregistrez-vous afin d'être notifié lorsque de nouvelles versions de ce produit sont disponibles.

Note: Version actuelle: IEC 60749-5:2023 ED3

Aperçu Lien externe

Amendements et versions existants ou nouveaux doivent être achetés séparément.

Langue Anglais/Français

Format En ligne + PDF CHF 21.00 En ligne CHF 18.00

Il n'y a pas d'édition étendue disponible pour cette norme.

Il n'existe aucun rectificatif technique ou amendement pour cette norme. Ces derniers seront automatiquement ajoutés aux clients d'abonnements.

Résumé

Décrit un essai continu de durée de vie utilisant la température et l'humidité avec polarisation pour évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides.

Spécifications des produits

Standard de IEC
Publié: 17 janvier 2003
Radié: 10 avril 2017
Version: 1
Type de document: IS
Pages
ISBN: 2831868009

Editeur: IEC
Distributeur: IEC
ICS: 31.080.01
Comité international: TC 47

Relations produit

Révisé par: IEC 60749-5:2017 ED2
Remplace partiellement: IEC 60749:1996+AMD1:2000+AMD2:2001 CSV ED2.2
Remplace: IEC PAS 62161:2000 ED1
Remplace partiellement: IEC 60749:1996 ED2

IEC 60749-5:2003 ED1

Créer abonnement

IEC 60749-5:2023 ED3

IEC 60749-5:2017 ED2