Standard

NF EN 60749:1999

NF C96-022:1999

Radié

Amendements et versions existants ou nouveaux doivent être achetés séparément.

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Résumé

La présente Norme internationale donne la liste des méthodes d'essais applicables aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés), parmi lesquelles on peut effectuer un choix. Toutefois, des méthodes d'essais supplémentaires peuvent être nécessaires pour les dispositifs n'ayant pas de cavité interne.Cette norme a tenu compte, dans la mesure du possible, de la IEC 68. L'objet de la présente norme est d'établir des méthodes d'essais préférées et uniformes avec des valeurs préférentielles pour les niveaux de contraintes, afin d'apprécier les propriétés mécaniques et climatiques des dispositifs à semiconducteurs. Au cas où il y aurait contradiction entre cette norme et une spécification particulière, cette dernière prévaudrait.

Spécifications des produits

  • Standard de AFNOR
  • Publié:
  • Radié:
  • Délai d' objection - Expire:
  • Effectif:
  • Type de document: EN
  • Pages
  • Editeur: AFNOR*UTE
  • Distributeur: AFNOR
  • ICS: 31.080.01

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