Remplace l'article 2 du chapitre 3 de la norme NF EN 60749 (C96-022) de décembre 1999 et ses amendements A1 de février 2002 et A2 de juin 2002
Résumé
La présente partie de la IEC 60749 a pour objet de tester et de déterminer sur tous les dispositifs électroniques à semiconducteurs l'effet du stockage à température élevée et sans contrainte électrique appliquée. Cet essai est considéré comme non destructif mais doit être utilisé de préférence pour la qualification des dispositifs. Si de tels dispositifs sont livrés, les effets de cet essai de contrainte fortement accéléré devront être évalués.Cet essai de stockage à haute température est, en général, en accord avec la IEC 60068-2-48 mais en raison d'exigences spécifiques aux semiconducteurs, les articles de la présente norme s'appliquent.