Remplace l'article 3 du chapitre 3 de la norme NF EN 60749 (C96-022) de décembre 1999 et ses amendements A1 de février 2002 et A2 de juin 2002
Résumé
La présente partie de la IEC 60749 décrit l'essai de basse pression atmosphérique appliqué aux dispositifs à semiconducteurs. L'essai est essentiellement destiné à déterminer la capacité des éléments et des matériaux des composants à éviter les claquages provoqués par la rigidité diélectrique amoindrie de l'air et des autres matériaux isolants à des pressions réduites. Cet essai n'est applicable qu'aux dispositifs dont la tension de fonctionnement dépasse 1 000 V.Cet essai est applicable à tous les dispositifs à semiconducteurs qui sont installés dans des boîtiers pourvus de cavités internes. Cet essai est uniquement destiné aux applications militaires et spatiales.Cet essai de basse pression atmosphérique est, en général, conforme à la IEC 60068-2-13, mais en raison d'exigences spécifiques aux semiconducteurs, les articles de la présente norme s'appliquent.