Standard

NF EN 60749-5:2003

NF C96-022-5:2003

Radié

Note: Version actuelle: NF EN 60749-5:2017

Amendements et versions existants ou nouveaux doivent être achetés séparément.

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Résumé

La présente partie de la IEC 60749 décrit un essai continu de durée de vie utilisant la température et l'humidité avec polarisation pour évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides.Cette méthode d'essai est considérée comme destructive.

Spécifications des produits

  • Standard de AFNOR
  • Publié:
  • Radié:
  • Délai d' objection - Expire:
  • Effectif:
  • Type de document: EN
  • Pages
  • Editeur: AFNOR*UTE
  • Distributeur: AFNOR
  • ICS: 31.080.01

Relations produit