Standard

NF EN 60749-32:2003

NF C96-022-32:2003

nov. 2003 Actuel

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Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 32 : inflammabilité des dispositifs à encapsulation plastique (cas d'une cause extérieure d'inflammation) Actuel NF EN 60749-32/A1:2011 Amendment de Date de publication : mai 2011 Pages: 7 Langue: Anglais, Français Format: En ligne, En ligne + PDF

Résumé

La présente partie de la IEC 60749 est applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés). L'objet de cet essai est de déterminer si le dispositif prend feu en raison d'une chaleur extérieure. L'essai est pratiqué avec un brûleur-aiguille, simulant l'effet de petites flammes pouvant résulter de mauvaises conditions apparaissant dans l'équipement contenant le dispositif.

Spécifications des produits

Standard de AFNOR
Publié: 1 novembre 2003
Effectif: 5 novembre 2003
Type de document: EN
Pages
ISBN:

Editeur: AFNOR*UTE
Distributeur: AFNOR
ICS: 31.080.01

Relations produit

Remplace: NF EN 60749:1999
Adopté de: IEC 60749-32/AC:2003, IDT
Adopté de: EN 60749-32:2003, IDT

NF EN 60749-32:2003

NF C96-022-32:2003

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