Standard

NF EN 60749-22:2003

NF C96-022-22:2003

Actuel

Amendements et versions existants ou nouveaux doivent être achetés séparément.

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Résumé

La présente partie de la IEC 60749 est applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés).L'objet de la présente partie est de mesurer la robustesse d'un contact soudé ou de déterminer sa conformité à des exigences de robustesse spécifiées.

Spécifications des produits

  • Standard de AFNOR
  • Publié:
  • Effectif:
  • Type de document: EN
  • Pages
  • Editeur: AFNOR*UTE
  • Distributeur: AFNOR
  • ICS: 31.080.01

Relations produit