L'objet de cet essai est de déterminer si le dispositif prend feu par suite d'un échauffement interne dû à des surcharges excessives. La présente partie de la IEC 60749 est applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés). L'objet de cet essai est de déterminer si le dispositif prend feu par suite d'un échauffement interne dû à des surcharges excessives.