Remplace l'article 8 du chapitre 3 de la norme NF EN 60749 (C96-022) de décembre 1999 et ses amendements A1 de février 2002 et A2 de juin 2002
Résumé
La présente partie de la IEC 60749 a pour objet de tester et de mesurer la teneur en vapeur d'eau et en autres gaz de l'atmosphère à l'intérieur d'un dispositif métallique ou céramique scellé hermétiquement. Cette norme est applicable à tous les dispositifs à semiconducteurs scellés de cette manière mais particulièrement à ceux exigés pour les applications à haute fiabilité comme dans les domaines militaire et spatial. Cet essai peut être destructif (méthodes 1 et 2) ou non destructif (méthode 3).