Remplace l'article 5 du chapitre 1 de la norme NF EN 60749 de décembre 1999 et ses amendements
Résumé
La présente partie de la IEC 60749 a pour but de vérifier que les matériaux, la conception, la construction, les marquages et l'exécution du dispositif à semiconducteurs sont conformes au document d'approvisionnement applicable. L'examen visuel externe est un essai non destructif et il est applicable à tous les types de boîtiers. Cet essai est utile pour la qualification, la surveillance des procédés ou pour la réception des lots ou les deux.