Standard

NF EN 60749-3:2002

NF C96-022-3:2002

Radié

Note: Version actuelle: NF EN 60749-3:2017

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Amendements et versions existants ou nouveaux doivent être achetés séparément.

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Remplace l'article 5 du chapitre 1 de la norme NF EN 60749 de décembre 1999 et ses amendements

Résumé

La présente partie de la IEC 60749 a pour but de vérifier que les matériaux, la conception, la construction, les marquages et l'exécution du dispositif à semiconducteurs sont conformes au document d'approvisionnement applicable. L'examen visuel externe est un essai non destructif et il est applicable à tous les types de boîtiers. Cet essai est utile pour la qualification, la surveillance des procédés ou pour la réception des lots ou les deux.

Spécifications des produits

  • Standard de AFNOR
  • Publié:
  • Radié:
  • Délai d' objection - Expire:
  • Effectif:
  • Type de document: EN
  • Pages
  • Editeur: AFNOR*UTE
  • Distributeur: AFNOR
  • ICS: 31.080.01

Relations produit