Standard

NF EN 60749-20:2003

NF C96-022-20:2003

Radié

Note: Version actuelle: NF EN 60749-20:2010

Amendements et versions existants ou nouveaux doivent être achetés séparément.

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Résumé

La présente partie de la IEC 60749 est applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés).Cette méthode d'essai fournit des moyens d'évaluer la résistance à la chaleur de soudage des composants plastiques à montage en surface (CMS) Cet essai est destructif.

Spécifications des produits

  • Standard de AFNOR
  • Publié:
  • Radié:
  • Effectif:
  • Type de document: EN
  • Pages
  • Editeur: AFNOR*UTE
  • Distributeur: AFNOR
  • ICS: 31.080.01

Relations produit