Remplace l'article 6 du chapitre 3 de la norme NF EN 60749 (C96-022) de décembre 1999 et ses amendements A1 de février 2002 et A2 de juin 2002
Résumé
La présente partie de la IEC 60749 décrit un essai d'atmosphère saline réalisé pour déterminer la résistance des dispositifs à semiconducteurs à la corrosion. Il s'agit d'un essai accéléré qui simule les effets d'une atmosphère côtière corrosive sur toutes les surfaces exposées. Il n'est applicable qu'aux dispositifs spécifiés pour un environnement maritime.L'essai d'atmosphère saline est considéré comme destructif.Cet essai d'atmosphère saline est, en général, conforme à la IEC 60068-2-11, mais en raison d'exigences spécifiques aux semiconducteurs, les articles de la présente norme s'appliquent.