Standard

IEC 60749-4:2017 ED2

mars 2017 Actuel

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Résumé

L’IEC 60749-4:2017 décrit un essai de contrainte de température et d’humidité fortement accéléré (HAST, highly accelerated temperature and humidity stress test) qui est réalisé dans le but d’évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l’édition précédente: a) clarification des exigences relatives à la température, à l’humidité relative et à la durée d’exposition, détaillées dans le Tableau 1; b) ajout de recommandations suggérant de placer une ou des résistances dans le montage d’essai, afin d’éviter d’endommager la carte d’essai ou le dispositif soumis à essai (DUT, Device Under Test); c) spécification d’une autorisation d’extension du temps d’établissement des conditions d’essai ou du temps de retour à la contrainte.

Spécifications des produits

Standard de IEC
Publié: 3 mars 2017
Version: 2
Type de document: IS
Pages
ISBN: 9782832240021

Editeur: IEC
Distributeur: IEC
ICS: 31.080.01
Comité international: TC 47

Relations produit

Révise: IEC 60749-4:2002 ED1

IEC 60749-4:2017 ED2

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