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IEC PAS 62205:2000 ED1

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Résumé

Aims at determining the effect on solid state electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied. This test is considered destructive.

Spécifications des produits

  • Standard de IEC
  • Publié:
  • Radié:
  • Version: 1
  • Type de document: PAS
  • Pages
  • Editeur: IEC
  • Distributeur: IEC
  • ICS: 31.080.01
  • Comité international: TC 47

Relations produit

Cycle de vie du produit