Standard

IEC 60749-5:2017 ED2

avr. 2017 Révisé

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Résumé

L’IEC 60749-5:2017 décrit un essai continu de durée de vie utilisant la température et l’humidité avec polarisation pour évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides. Cette méthode d’essai est considérée comme destructive. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l’édition précédente: a) correction d’une erreur dans une équation; b) ajout de notes à des fins de recommandation; c) clarification de l’applicabilité des conditions d’essai.

Spécifications des produits

Standard de IEC
Publié: 10 avril 2017
Radié: 19 décembre 2023
Version: 2
Type de document: IS
Pages
ISBN: 9782832241714

Editeur: IEC
Distributeur: IEC
ICS: 31.080.01
Comité international: TC 47

Relations produit

Révisé par: IEC 60749-5:2023 RLV
Révisé par: IEC 60749-5:2023 ED3
Révise: IEC 60749-5:2003 ED1

IEC 60749-5:2017 ED2

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IEC 60749-5:2023 ED3