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IEC PAS 62177:2000 ED1

ago 2000 Sostituito

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The highly-accelerated temperature and humidity stress test is performed for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments. It employs severe conditions of temperature, humidity, and bias which accelerate the penetration of moisture through the external protective material or along the interface between the external protective material and the metallic conductors which pass through it.

Specifiche dei prodotti

Standard da IEC
Pubblicato: 24 agosto 2000
Ritirato: 1 luglio 2002
Edizione: 1
Tipo di documento: PAS
Pagine
ISBN: 2831853508

Publisher IEC
Distributor IEC
ICS 31.080.01
International TC TC 47

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Sostituito da: IEC 60749-4:2002 ED1

IEC PAS 62177:2000 ED1

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