Standard

IEC TS 62396-2:2008 ED1

août 2008 Remplacé

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Résumé

IEC TS 62396-2:2008 (E) provides guidance related to the testing of microelectronic devices for purposes of measuring their susceptibility to single event effects (SEE) induced by the atmospheric neutrons. Since the testing can be performed in a number of different ways, using different kinds of radiation sources, it also shows how the test data can be used to estimate the SEE rate of devices and boards due to the atmospheric neutrons in the atmosphere at aircraft altitudes.

Spécifications des produits

Standard de IEC
Publié: 19 août 2008
Radié: 27 septembre 2012
Version: 1
Type de document: TS
Pages
ISBN: 2831899583

Editeur: IEC
Distributeur: IEC
ICS: 03.100.50
ICS: 31.020
ICS: 49.060
Comité international: TC 107

Relations produit

Révisé par: IEC 62396-2:2017 ED2
Remplacé par: IEC 62396-2:2012 ED1
Remplace: IEC PAS 62396-2:2007 ED1

IEC TS 62396-2:2008 ED1

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