Standard

IEC PAS 62396-2:2007 ED1

sept. 2007 Remplacé

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Résumé

Provides guidance related to the testing of microelectronic devices for purposes of measuring their susceptibility to single event effects (SEE) induced by the atmospheric neutrons. Also shows how the test data can be used to estimate the SEE rate of devices and boards due to the atmospheric neutrons in the atmosphere at aircraft altitudes.

Spécifications des produits

Standard de IEC
Publié: 18 septembre 2007
Radié: 19 août 2008
Version: 1
Type de document: PAS
Pages
ISBN: 2831892023

Editeur: IEC
Distributeur: IEC
ICS: 03.100.50
ICS: 31.020
ICS: 49.060
Comité international: TC 107

Relations produit

Révisé par: IEC 62396-2:2017 ED2
Remplacé par: IEC TS 62396-2:2008 ED1

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