Standard

IEC 62396-2:2017 ED2

déc. 2017 Actuel

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Résumé

IEC 62396-2:2017(E) aims to provide guidance related to the testing of electronic components for purposes of measuring their susceptibility to single event effects (SEE) induced by neutrons generated by cosmic ray interactions in the Earth’s atmosphere (atmospheric neutrons). Since the testing can be performed in a number of different ways, using different kinds of radiation sources, it also shows how the test data can be used to estimate the SEE rate of electronic components and boards due to atmospheric neutrons at aircraft altitudes. Although developed for the avionics industry, this process can be applied by other industrial sectors.

Spécifications des produits

Standard de IEC
Publié: 15 décembre 2017
Version: 2
Type de document: IS
Pages
ISBN: 9782832250983

Editeur: IEC
Distributeur: IEC
ICS: 03.100.50
ICS: 31.020
ICS: 49.060
Comité international: TC 107

Relations produit

Révise: IEC 62396-2:2012 ED1
Révise: IEC TS 62396-2:2008 ED1
Révise: IEC PAS 62396-2:2007 ED1
Adopté par: NF EN 60317-0-2:2000
Adopté par: SN EN 60317-0-2:1998

IEC 62396-2:2017 ED2

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