Standard

ISO 1463:1982

juil. 1982 Radié

Connectez-vous ou enregistrez-vous pour ajouter ce produit à vos favoris.
Connectez-vous ou enregistrez-vous afin d'être notifié lorsque de nouvelles versions de ce produit sont disponibles.

Note: Version actuelle: ISO 1463:2021

Amendements et versions existants ou nouveaux doivent être achetés séparément.

Langue Anglais Français

Format En ligne + PDF CHF 67,00 En ligne CHF 57,00

Il n'y a pas d'édition étendue disponible pour cette norme.

Il n'existe aucun rectificatif technique ou amendement pour cette norme. Ces derniers seront automatiquement ajoutés aux clients d'abonnements.

Résumé

La présente Norme internationale spécifie une méthode de mesurage, par coupe micrographique en utilisant un microscope optique, de l'épaisseur locale des revêtements métalliques, couches d'oxyde et émaux vitrifiés. Dans de bonnes conditions, en utilisant un microscope optique, la méthode permet d'obtenir une précision absolue de 0,8 µm sur la mesure; cette précision déterminera l'aptitude de la méthode à mesurer l'épaisseur des revêtements minces.

Spécifications des produits

Standard de ISO
Publié: 1 juillet 1982
Radié: 12 mars 2003
Délai d' objection - Expire: 18 mai 1981
Version: 2
Type de document: IS
Pages
ISBN:

Editeur: ISO
Distributeur: ISO
ICS: 25.220.20
ICS: 25.220.40
Comité international: ISO/TC 107

Relations produit

Révisé par: ISO 1463:2003
Adopté par: NF EN ISO 1463:1995
Adopté par: SN EN ISO 1463:1995
Adopté par: NF A91-110:1981

ISO 1463:1982

Créer abonnement

ISO 1463:2021

ISO 1463:2003

ISO 1463:1982

ISO 1463:1973

Résumé

Spécifications des produits

Relations produit

Cycle de vie du produit

Extended editions Autres éditions (0)

Version history Corrigenda et Amendements connexes (0)

Version history History (4)

ISO 1463:2021

ISO 1463:2003

ISO 1463:1982

ISO 1463:1973

Résumé

Spécifications des produits

Relations produit

Cycle de vie du produit