Standard

NF EN ISO 1463:1995

NF A91-110:1995

avr. 1995 Radié

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Langue Français

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Résumé

La présente Norme internationale spécifie une méthode de mesurage, par coupe micrographique en utilisant un microscope optique, de l'épaisseur locale des revêtements métalliques, couches d'oxyde et émaux vitrifiés.Dans de bonnes conditions, en utilisant un microscope optique, la méthode permet d'obtenir une précision absolue de 0,8 mm sur la mesure; cette précision déterminera l'aptitude de la méthode à mesurer l'épaisseur des revêtements minces.

Spécifications des produits

Standard de AFNOR
Publié: 1 avril 1995
Radié: 5 novembre 2004
Délai d' objection - Expire: 5 juin 1993
Effectif: 5 avril 1995
Type de document: EN
Pages
ISBN:

Editeur: AFNOR
Distributeur: AFNOR
ICS: 25.220.20
ICS: 25.220.40

Relations produit

Remplacé par: NF EN ISO 1463:2004
Adopté de: ISO 1463:1982, EQV
Remplace: NF A91-110:1981
Adopté de: EN ISO 1463:1994, IDT

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