Standard

IEEE 1149.4-2010

mars 2011 Radié

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Résumé

Revision Standard - Inactive-Reserved. The testability structure for digital circuits described in IEEE Std 1149.1-2001 has been extended to provide similar facilities for mixed-signal circuits. The architecture is described, together with the means of control of and access to, both analog and digital test data. Sample implementation and application details (which are not part of the standard) are included for illustration. Also, extensions to the standard BSDL are defined that allow description of key component-specific aspects of such testability features.

Spécifications des produits

Standard de IEEE
Publié: 18 mars 2011
Radié: 25 mars 2021
Type de document: IS
Pages
ISBN: 978-0-7381-6523-3

Editeur: IEEE
Distributeur: IEEE
ICS: 31.180
Comité national: IEEE Computer Society / Test Technology

Relations produit

Référencé par: IEEE 1149.6-2015
Référencé par: IEEE 1149.1-2013
Référencé par: IEEE 1149.1-2013
Référence: IEEE 1149.1-2001
Révise: IEEE 1149.4-1999

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