Standard

IEEE 1149.4-1999

mars 2000 Révisé

Connectez-vous ou enregistrez-vous pour ajouter ce produit à vos favoris.
Connectez-vous ou enregistrez-vous afin d'être notifié lorsque de nouvelles versions de ce produit sont disponibles.

Note: Version actuelle: IEEE 1149.4-2010

Aperçu Lien externe

Amendements et versions existants ou nouveaux doivent être achetés séparément.

Langue Anglais

Format En ligne + PDF CHF 117.00 En ligne CHF 101.00

Il n'y a pas d'édition étendue disponible pour cette norme.

Il n'existe aucun rectificatif technique ou amendement pour cette norme. Ces derniers seront automatiquement ajoutés aux clients d'abonnements.

Résumé

New IEEE Standard - Superseded. The testability structure for digital circuits described in IEEE Std 1149.1-1990 has been extended to provide similar facilities for mixed-signal circuits. The architecture is described, together with the means of control of and access to both analog and digital test data. Sample implementation and application details (which are not part of the standard) are included for illustration.

Spécifications des produits

Standard de IEEE
Publié: 20 mars 2000
Type de document: IS
Pages
ISBN: 978-0-7381-1756-0

Editeur: IEEE
Distributeur: IEEE
ICS: 31.180
Comité national: IEEE Computer Society / Test Technology

Relations produit

Révisé par: IEEE 1149.4-2010
Référencé par: IEEE 1149.1-2001

Extended editions Autres éditions (0)

Version history Corrigenda et Amendements connexes (0)

Version history History (2)

IEEE 1149.4-2010

IEEE 1149.4-1999

Résumé

Spécifications des produits

Relations produit