Standard

IEC TS 62396-5:2008 ED1

août 2008 Remplacé

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Résumé

IEC TS 62396-5:2008 (E) provides a more precise definition of the threat that thermal neutrons pose to avionics as a second mechanism for inducing single event upset (SEU) in microelectronics. Addresses more in detail the following: detailed evaluation of the existing literature on measurements of the thermal flux inside of airliners; an enhanced compilation of the thermal neutron SEU cross section in currently available SRAM devices (more than 20 different devices).

Spécifications des produits

Standard de IEC
Publié: 19 août 2008
Radié: 22 août 2014
Version: 1
Type de document: TS
Pages
ISBN: 2831899591

Editeur: IEC
Distributeur: IEC
ICS: 03.100.50
ICS: 31.020
ICS: 49.060
Comité international: TC 107

Relations produit

Remplacé par: IEC 62396-5:2014 ED1
Remplace: IEC PAS 62396-5:2007 ED1

IEC TS 62396-5:2008 ED1

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