Standard

IEC PAS 62396-5:2007 ED1

Remplacé

Amendements et versions existants ou nouveaux doivent être achetés séparément.

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Résumé

Provides a more precise definition of the threat that thermal neutrons pose to avionics as a second mechanism for inducing single event upset in microelectronics.

Spécifications des produits

  • Standard de IEC
  • Publié:
  • Radié:
  • Version: 1
  • Type de document: PAS
  • Pages
  • Editeur: IEC
  • Distributeur: IEC
  • ICS: 03.100.50
  • ICS: 31.020
  • ICS: 49.060
  • Comité international: TC 107

Relations produit

Cycle de vie du produit