Standard

IEC 60749-3:2017 ED2

mars 2017 Actuel

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Résumé

L’IEC 60749-3:2017 a pour but de vérifier que les matériaux, la conception, la construction, les marquages et l’exécution du dispositif à semiconducteurs sont conformes au document d’approvisionnement applicable. L’examen visuel externe est un essai non destructif et il s’applique à tous les types de boîtiers. Cet essai est utile pour la qualification, la surveillance des procédés ou pour la réception des lots. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l’édition précédente: a) référence à la nécessité d’une protection contre les décharges électrostatiques; b) inclusion d’informations sur le phénomène de trichite d’étain; c) inclusion d’un formulaire/d’une liste de contrôle facultatif, à des fins de rapport.

Spécifications des produits

Standard de IEC
Publié: 3 mars 2017
Version: 2
Type de document: IS
Pages
ISBN: 9782832240014

Editeur: IEC
Distributeur: IEC
ICS: 31.080.01
Comité international: TC 47

Relations produit

Révise: IEC 60749-3:2002 ED1

IEC 60749-3:2017 ED2

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