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IEC 60749-29:2011 ED2

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Résumé

La CEI 60749-29:2011 couvre l'essai I et l'essai de verrouillage de surtension des circuits intégrés. L'objet de cet essai est d'établir une méthode pour déterminer les caractéristiques de verrouillage des circuits intégrés (CI) et pour définir les critères de défaillance de verrouillage. Les caractéristiques de verrouillage sont utilisées pour la détermination de la fiabilité de produit et la minimisation des défaillances en rapport avec "l'absence d'observation de problèmes" (NTF, No Trouble Found) et la "contrainte électrique excessive" (EOS, Electrical Overstress) dues au verrouillage. Cette deuxième édition annule et remplace la première édition publiée en 2003 et constitue une révision technique. Les modifications importantes apportées par rapport à l'édition antérieure concernent: - un certain nombre de modifications techniques mineures; - l'addition de deux nouvelles annexes traitant de l'essai des broches spéciales et des calculs de température.

Spécifications des produits

  • Standard de IEC
  • Publié:
  • Version: 2
  • Type de document: IS
  • Pages
  • ISBN: 9782889124343
  • Editeur: IEC
  • Distributeur: IEC
  • ICS: 31.080.01
  • Comité international: TC 47

Relations produit

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