Standard

IEC 60749-29:2003 ED1

nov. 2003 Révisé

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Langue Anglais/Français

Format En ligne + PDF CHF 158,00 En ligne CHF 135,00

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Résumé

Couvre l'essai I et les essais de verrouillage de surtension des circuits intégrés. L'objet de cet essai est d'établir une méthode pour déterminer les caractéristiques de verrouillage des circuits intégrés et définir les critères de défaillance de verrouillage. Les caractéristiques de verrouillage sont utilisées dans la détermination de la fiabilité de produit et la minimisation des défaillances en rapport avec «l'absence d'observation de problèmes» et la «contrainte électrique excessive» du fait du verrouillage.

Spécifications des produits

Standard de IEC
Publié: 4 novembre 2003
Radié: 7 avril 2011
Version: 1
Type de document: IS
Pages
ISBN: 2831872413

Editeur: IEC
Distributeur: IEC
ICS: 31.080.01
Comité international: TC 47

Relations produit

Révisé par: IEC 60749-29:2011 ED2
Remplace: IEC PAS 62181:2000 ED1

IEC 60749-29:2003 ED1

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