Standard

IEC TS 62396-5:2008 ED1

ago 2008 Sostituito

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Astratto

IEC TS 62396-5:2008 (E) provides a more precise definition of the threat that thermal neutrons pose to avionics as a second mechanism for inducing single event upset (SEU) in microelectronics. Addresses more in detail the following: detailed evaluation of the existing literature on measurements of the thermal flux inside of airliners; an enhanced compilation of the thermal neutron SEU cross section in currently available SRAM devices (more than 20 different devices).

Specifiche dei prodotti

Standard da IEC
Pubblicato: 19 agosto 2008
Ritirato: 22 agosto 2014
Edizione: 1
Tipo di documento: TS
Pagine
ISBN: 2831899591

Publisher IEC
Distributor IEC
ICS 03.100.50
ICS 31.020
ICS 49.060
International TC TC 107

Relazioni con i prodotti

Sostituito da: IEC 62396-5:2014 ED1
Sostituisce: IEC PAS 62396-5:2007 ED1

IEC TS 62396-5:2008 ED1

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